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概要
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分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 14
電子顕微鏡
共立出版
2023/07/10
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詳細
| 登録番号 | 000074876 |
|---|---|
| 和洋区分 | 和書 |
| 書名,巻次,叢書名 | 電子顕微鏡 分析化学実技シリーズ ; 機器分析編 ; 14 |
| 著者名 | 長迫実著 日本分析化学会編 |
| 配架場所コード | 1000 開架書架 |
| 分類記号1 | 433 分析化学 |
| 著者記号 | NA |
| 出 版 者 | 共立出版 |
| 出版年月日 | 2023/07/10 |
| ペ ー ジ | xii, 169p 挿図 |
| サ イ ズ | 21cm |
| ISBN1 | 9784320141018 |
| 注記 | 引用文献: p161-162 |
| 件名 | 電子顕微鏡 |
| 内容細目１ | 電子顕微鏡序論 |
|---|---|
| 内容細目２ | 電子顕微鏡の分類 |
| 内容細目３ | 透過電子顕微鏡の基本機能 |
| 内容細目４ | 電子顕微鏡の技術革新 |
| 内容細目５ | 透過電子顕微鏡における制限と課題 |
| 内容細目６ | 実際に利用するには？ |
| 内容細目１ | 電子顕微鏡の基礎 |
|---|---|
| 内容細目２ | 電子顕微鏡の分解能と倍率 |
| 内容細目３ | レンズの性能 |
| 内容細目４ | 加速電圧と分解能 |
| 内容細目５ | 物質と電子線の相互作用 |
| 内容細目６ | 電子線の透過能とダメージ |
| 内容細目１ | 結晶と回折 |
|---|---|
| 内容細目２ | コントラスト |
| 内容細目３ | 電子光学系 |
| 内容細目４ | ハードウェア |
| 内容細目５ | 電子顕微鏡の構成 |
| 内容細目６ | 電源 |
| 内容細目１ | 電子銃・加速管 |
|---|---|
| 内容細目２ | レンズと補正コイル |
| 内容細目３ | 電子光学系１・照射系 |
| 内容細目４ | 電子光学系２・対物レンズ |
| 内容細目５ | 電子光学系３・結像系 |
| 内容細目６ | 球面収差補正装置 |
| 内容細目１ | 試料室・試料ホルダー |
|---|---|
| 内容細目２ | 観察・記録 |
| 内容細目３ | 真空系 |
| 内容細目４ | 冷却水循環系 |
| 内容細目５ | 制御系 |
| 内容細目６ | 周辺機器 |
| 内容細目１ | 設置環境 |
|---|---|
| 内容細目２ | 透過電子顕微鏡法（TEM） |
| 内容細目３ | 回折法：概論 |
| 内容細目４ | 回折法：制限視野電子回折（SAD） |
| 内容細目５ | 回折法：菊池線 |
| 内容細目６ | 回折法：（収束照射）NBD/CBED |
| 内容細目１ | 顕微法：概論 |
|---|---|
| 内容細目２ | 顕微法：強度コントラスト |
| 内容細目３ | 顕微法：位相コントラスト：高分解能電子顕微鏡法 |
| 内容細目４ | 分光法：概論 |
| 内容細目５ | 分光法：エネルギー分散型X線分光法（EDS） |
| 内容細目６ | 分光法：電子エネルギー損失分光法（EELS） |
| 内容細目１ | 特殊実験・周辺機器 |
|---|---|
| 内容細目２ | 走査透過電子顕微鏡法 (STEM) |
| 内容細目３ | STEM概論 |
| 内容細目４ | STEM像のコントラスト |
| 内容細目５ | 高分解能STEM |
| 内容細目６ | 試料作製法 |
| 内容細目１ | 試料作製概論 |
|---|---|
| 内容細目２ | 試料作製・共通項目 |
| 内容細目３ | イオン研磨法 |
| 内容細目４ | 集束イオンビーム（FIB）法 |
| 内容細目５ | 電解研磨法 |
| 内容細目６ | 支持膜担持法（分散法・ふりかけ法） |
| 内容細目１ | 仕上げ・クリーニング・コーティング |
|---|---|
| 内容細目２ | 技能習得・トレーニング |
| 内容細目３ | トレーニング概論 |
| 内容細目４ | トレーニング：共通・基礎 |
| 内容細目５ | トレーニング：TEM |
| 内容細目６ | トレーニング：STEM |
| 内容細目１ | ソフトウェアの活用 |
|---|
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所蔵1 冊
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1登録番号
000074876
分類記号1433著者記号保管場所コード閲覧室配架場所コード開架書架